Seminario de Agilent Technologies y Ayscom
"Fundamentos de medida en dispositivos de RF"
En este seminario gratuito y eminentemente práctico, varios ingenieros presentaron la arquitectura interna de la instrumentación y los fundamentos de medida teóricos y prácticos necesarios para la caracterización de dispositivos en RF en las siguientes áreas: Analizadores de espectro, Analizadores de Señal y Aplicaciones Internas como Ruido de Fase o Figura de Ruido, Medidores de Potencia y Analizadores de Redes; utiizando como dispositivo bajo prueba en las demostraciones un Transmisor y Receptor de RF.
Si no pudo asisitir a este seminario celebrado los días 21 y 27 de Octubre, puede descargarse la documentación dada aquí
